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二手ICP-OES ?5110等離子體光譜儀是大型精密儀器，在平時(shí)的使用過程中要注意安全并保護(hù)儀器，避免測出的數(shù)據(jù)的不準(zhǔn)確性，或是會(huì)頻頻出現(xiàn)故障，影響儀器的正常工作。下面羅列幾點(diǎn)二手ICP-OES 5110 安捷倫Agilent 等離子發(fā)射光譜儀使用的安全注意事項(xiàng)和操作的注意事項(xiàng)。

影響實(shí)驗(yàn)室檢測結(jié)果的因素較多，其中設(shè)施和環(huán)境條件是兩項(xiàng)很重要的影響因素。實(shí)驗(yàn)室的設(shè)施包括照明設(shè)施、消防設(shè)施、排氣設(shè)施等，而環(huán)境條件包括采光條件、通風(fēng)條件、溫濕度條件等。其中任何一項(xiàng)設(shè)施或任何一種環(huán)境條件不滿足實(shí)驗(yàn)室的檢測要求，均會(huì)對(duì)檢測結(jié)果造成重大影響。因此，試驗(yàn)只有在相同的設(shè)施和環(huán)境下進(jìn)行，所檢測的結(jié)果才具有可比性，數(shù)據(jù)才具有真實(shí)性和準(zhǔn)確性。那么分析儀器實(shí)驗(yàn)室有哪些要求和標(biāo)準(zhǔn)呢？

二手ICP-MS樣品前處理是樣品分析檢測的重要步驟之一，對(duì)分析檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性有著重要的影響。由于樣品的種類繁多，理化性質(zhì)各異，因此，針對(duì)不同的樣品及要求有著不同的前處理方法。具體到ICP-MS分析的時(shí)候，前處理顯得就更為重要了，因?yàn)樗鼘?duì)基體的耐受性要比原子吸收、原子熒光等要差些，高基體的樣液極易造成干擾，而且對(duì)ICP-MS本身的損耗也更為嚴(yán)重。合適的前處理方法不但能保證你的測試結(jié)果的準(zhǔn)確性，也能減小分析對(duì)二手ICP-MS造成的傷害。

污染物在大氣中的存在形式不同，大氣采樣要根據(jù)采樣的目的和現(xiàn)場情況，選擇合適的采集裝置和采樣方式，它們的原理是不同的。如連續(xù)或瞬時(shí)采樣，在地面定點(diǎn)采樣或流動(dòng)采樣，用氣球、飛機(jī)進(jìn)行空中采樣，以及環(huán)境采樣、室內(nèi)采樣和污染源采樣等。采樣目的和采樣方式不同，所用的采樣方法和采樣器也有所不同。如煙囪內(nèi)顆粒物采樣，可根據(jù)煙囪形狀、高度，選定適當(dāng)位置打孔，把采樣器的收集器伸入孔內(nèi)，用等動(dòng)力速度抽氣采集。這種方法稱為等動(dòng)力采樣法。

三重四極桿液質(zhì)聯(lián)用儀的特性改進(jìn)和新功能使其在靈敏度、精密度、耐用性和可靠性等方面進(jìn)一步提升，成為分析選擇性的三重四極桿質(zhì)譜系統(tǒng)，適用于包括食品安全、環(huán)境分析、藥物研發(fā)和藥代動(dòng)力學(xué)、臨床研究等諸多領(lǐng)域。

什么叫擔(dān)體？在二手氣相色譜中的作用是什么？擔(dān)體是一種多孔性化學(xué)惰性固體，在氣相色譜中用來支撐固定液。 ?二手氣相色譜對(duì)擔(dān)體有如下幾點(diǎn)要求:１/表面積較大，一般應(yīng)在0.5－2米/克之間； ?２/具有化學(xué)惰性和熱穩(wěn)定性；?３/有一定的機(jī)械強(qiáng)度，使涂漬和填充過程不引起粉碎；４/有適當(dāng)?shù)目紫督Y(jié)構(gòu)，利于兩相間快速傳質(zhì)；?５/能制成均勻的球狀顆粒，利于氣相滲透和填充均勻性好；６/有很好的浸潤性，便于固定液的均勻分布。完全滿足上述要求的擔(dān)體是困難的，人們在實(shí)踐中只能找出性能比較優(yōu)良的擔(dān)體。

二手質(zhì)譜相關(guān)醫(yī)學(xué)生物質(zhì)譜技術(shù)，生命科學(xué)被譽(yù)為21世紀(jì)的最前沿科學(xué)之一，隨著人類第一張基因序列草圖的完成和發(fā)展，生命科學(xué)的研究也將進(jìn)入一個(gè)嶄新的后基因組學(xué)，即蛋白質(zhì)組學(xué)時(shí)代。電噴霧質(zhì)譜的優(yōu)勢就是它可以方便地與多種分離技術(shù)聯(lián)合使用，如二手液-質(zhì)聯(lián)用（二手LC-MS）是將二手液相色譜與二手質(zhì)譜聯(lián)合而達(dá)到檢測大分子物質(zhì)的目的。

電子天平容易受到不同環(huán)境因素的影響，由測量裝置和被測量物品本身的變化都會(huì)產(chǎn)生稱量誤差，比如周圍環(huán)境的濕度、溫度、振動(dòng)、電磁場、氣壓、光線等引起的誤差。電子天平儀器儀表在規(guī)定條件下引起的示值誤差被稱作基本誤差，超出規(guī)定條件使用引起的誤差稱作附加誤差。電子天平是精密實(shí)驗(yàn)儀器，極易受到使用環(huán)境因素的影響產(chǎn)生誤差，首先我們要找出誤差的來源，才能有效的降低使用誤差，獲得更加準(zhǔn)確的稱量結(jié)果。

二手多級(jí)質(zhì)譜聯(lián)用是通過對(duì)一級(jí)或上級(jí)質(zhì)譜產(chǎn)生離子的進(jìn)一步裂解產(chǎn)生次級(jí)質(zhì)譜，并對(duì)次級(jí)質(zhì)譜進(jìn)行質(zhì)量分析的技術(shù)。依據(jù)實(shí)現(xiàn)方式，多級(jí)質(zhì)譜可分為兩類：一類是時(shí)間串聯(lián)質(zhì)譜，它是利用某些質(zhì)量分析器能夠儲(chǔ)存離子的特性，在同一個(gè)質(zhì)量分析器上，通過時(shí)間序貫實(shí)現(xiàn)多級(jí)質(zhì)譜分析；另一類是空間串聯(lián)質(zhì)譜，它是利用多個(gè)質(zhì)量分析器在空間上串聯(lián)從而實(shí)現(xiàn)多級(jí)質(zhì)譜的功能。